مجهر المسح الإلكتروني المجهري (Ga and Xe plasma)

يُعد AMBER X FIB-SEM من TESCAN مزيجًا فريدًا يجمع بين Plasma FIB وتقنية FE-SEM عالية الدقة وبدون مجال مغناطيسي (field-free)، لتوفير أوسع نطاق من تحليلات المواد متعددة المقاييس، خاصة للعينات التي يصعب التعامل معها باستخدام أدوات Ga FIB وFE-SEM التقليدية.

يُدمج AMBER X بين Xe Plasma FIB وعدسات BrightBeam™ SEM لتقديم معالجة أيونية عالية الكفاءة لمساحات كبيرة، إلى جانب تصوير فائق الدقة بدون مجال مغناطيسي، سواء في الوضع ثنائي الأبعاد أو ثلاثي الأبعاد، ما يتيح تحليلاً متعدد الأنماط لأوسع مجموعة من المواد الت...

نظام AMBER FIB-SEM من TESCAN هو نظام نانو تحليلي متعدد الاستخدامات يهدف إلى توسيع قدراتك في أبحاث المواد، ويأتي مع باقات اختيارية مميزة لمجموعة متنوعة من التطبيقات. يوفر AMBER ميزات مثل مصفوفة من أعمدة الضغط الميكروي، وقطع عرضي عبر عيب في طبقة متعددة، ووضع التصوير بالحقل الواسع (Wide Field mode) لتصوير العينات الكبيرة والتنقل بينها بسهولة.

SOLARIS FIB-SEM from TESCAN is an Advanced nanofabrication workbench for your research lab with easy-to-use modular software user interface. Solaris is capable to extract Nanofabrication of a 3D optical vortex structure using Python script, In-situ tensile test experiment of a single-layer graphene flake and is is ideal for FIB-SEM nanotomography of SERS substrate.

يُعد نظام AMBER CRYO FIB-SEM حلاً بديلاً لتحضير الشرائح المجمدة (cryo lamellae) من أجل استخدامات TEM، حيث يوفر محطة عمل مرنة cryo-FIB-SEM تلبي أكثر التطبيقات تطلبًا تحت ظروف التجميد. ويتوفر مع النظام باقات اختيارية مميزة لتناسب مختلف الاستخدامات.

SOLARIS FIB-SEM from TESCAN is an advanced UHR FIB-SEM for 2D and 3D characterization of your biological and beam-sensitive samples and is perfect for Cryo UHR SEM imaging and cryo-FIB-SEM applications. SOLARIS can show Resin embedded mammalian cells. Additionally inverted image was acquired, Resin embedded brain tissue. Cross-section was prepared with Ga FIB and visualized using In-Beam BSE detector and 3D ultrastructural reconstruction of mammalian cell.

SOLARIS X from TESCAN is a Plasma FIB-SEM platform for deep sectioning and the highest resolution end-pointing for package level failure analysis and is Complemented with stand-alone laser ablation which frees the Plasma FIB for final targeted material removal, sample thinning or cross-section polishing. SOLARIS X has a variety of effective techniques and recipes of SOLARIS X for fast and artefact-free cross-sectioning of composite samples at high currents